Ing. Mária Marčišovská Ph.D.

Exploring the design and measurements of next-generation 4H-SiC LGADs

Rok vydání

2025

Vydání

Nuclear Instruments and Methods in Physics Research, Section A, Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment. 2025, 1080 1-5. ISSN 0168-9002.

Autoři

Švihra, P. Chochol, J. Kafka, V. Klimsza, A. Marčišovská, M. Marčišovský, M. Novotný, R.

DOI

https://doi.org/10.1016/j.nima.2025.170742

First generation 4H-SiC LGAD production and its performance evaluation

Rok vydání

2025

Vydání

Journal of Instrumentation. 2025, 20(8), 1-5. ISSN 1748-0221.

Autoři

Novotný, R. Chochol, J. Kafka, V. Klimsza, A. Marčišovský, M. Marčišovská, M. Švihra, P.

DOI

https://doi.org/10.1088/1748-0221/20/08/C08022

SpacePix2: SOI MAPS detector for space radiation monitoring

Rok vydání

2023

Vydání

Journal of Instrumentation. 2023, C01002 ISSN 1748-0221.

Autoři

Vančura, P. Gečnuk, J. Janoška, Z. Jirsa, J. Korchak, O. Kostina, A. Kafka, V. Lednický, D. Marčišovská, M. Marčišovský, M. Švihra, P. Tomášek, L. Staněk, P.

DOI

https://doi.org/10.1088/1748-0221/18/01/C01002

Characterization of 3.2 Gbps readout in 65 nm CMOS technology

Rok vydání

2023

Vydání

Journal of Instrumentation. 2023, 18(1), ISSN 1748-0221.

Autoři

Jirsa, J. Gečnuk, J. Havránek, M. Janoška, Z. Janský, M. Kafka, V. Korchak, O. Kostina, A. Lednický, D. Marčišovská, M. Marčišovský, M. Staněk, P. Tomášek, L. Vančura, P.

DOI

https://doi.org/10.1088/1748-0221/18/01/C01055

Monte-Carlo simulation of charge sharing in 2 mm thick pixelated CdTe sensor

Rok vydání

2023

Vydání

Journal of Instrumentation. 2023, 18(2), ISSN 1748-0221.

Autoři

Jirsa, J. Gečnuk, J. Janoška, Z. Jakovenko, J. Kafka, V. Marčišovský, M. Marčišovská, M. Staněk, P. Tomášek, L. Vančura, P.

DOI

https://doi.org/10.1088/1748-0221/18/02/C02033

SpacePix3: SOI MAPS detector for space radiation monitoring

Rok vydání

2023

Vydání

Journal of Instrumentation. 2023, 2023(C10015), ISSN 1748-0221.

Autoři

Vančura, P. Gečnuk, J. Janoška, Z. Jirsa, J. Korchak, O. Kostina, A. Kafka, V. Lednický, D. Marčišovská, M. Marčišovský, M. Strnad, M. Švihra, P. Tomášek, L. Staněk, P.

DOI

https://doi.org/10.1088/1748-0221/18/10/C10015

A Low Power Asynchronous Column-parallel 10-bit Analog to Digital Converter with a High Input Impedance

Rok vydání

2022

Vydání

Journal of Instrumentation. 2022, 17 ISSN 1748-0221.

Autoři

Vančura, P. Gečnuk, J. Jakovenko, J. Janoška, Z. Jirsa, J. Kafka, V. Korchak, O. Kostina, A. Lednický, D. Marčišovská, M. Marčišovský, M. Tomášek, L.

DOI

https://doi.org/10.1088/1748-0221/17/05/T05016

Radiation hardness of PantherPix hybrid pixel detector

Rok vydání

2021

Vydání

Journal of Instrumentation. 2021, 16(12), 0-14. ISSN 1748-0221.

Autoři

Dudáš, D. Kafka, V. Marčišovský, M. Marčišovská, M. Neue, G. Průša, P. Koniarová, I. Semmler, M.

DOI

https://doi.org/10.1088/1748-0221/16/12/P12007

TID and SEU testing of the novel X-CHIP-03 monolithic pixel detector

Rok vydání

2020

Vydání

Journal of Instrumentation. 2020, 15(1), ISSN 1748-0221.

Autoři

Marčišovská, M. Dudáš, D. Havránek, M. Kabátová, A. Kafka, V. Kostina, A. Macková, A. Marčišovský, M. Mitrofanov, S.V. Popule, J. Romanenko, O. Tomášek, L. Vrba, V.

DOI

https://doi.org/10.1088/1748-0221/15/01/C01043

Runaway electron diagnostics using silicon strip detector

Rok vydání

2020

Vydání

Journal of Instrumentation. 2020, 15(07), ISSN 1748-0221.

Autoři

Novotný, L. Čeřovský, J. Dhyani, P. Ficker, O. Havránek, M. Hejtmánek, M. Janoška, Z. Kafka, V. Kulkov, S. Marčišovská, M. Marčišovský, M. Neue, G. Švihra, P. Svoboda, V. Tomášek, L. Tunkl, M. Vrba, V.

DOI

https://doi.org/10.1088/1748-0221/15/07/C07015

Time of flight measurements with the PH32 chip

Rok vydání

2019

Vydání

Journal of Instrumentation. 2019, 2019(14), ISSN 1748-0221.

Autoři

Janoška, Z. Benka, T. Havránek, M. Hejtmánek, M. Jakovenko, J. Kafka, V. Kaschner, M. Marčišovská, M. Marčišovský, M. Neue, G. Tomášek, L. Švihra, P. Vančura, P. Vrba, V.

DOI

https://doi.org/10.1088/1748-0221/14/04/C04004

MAPS sensor for radiation imaging designed in 180 nm SOI CMOS technology

Rok vydání

2018

Vydání

Journal of Instrumentation. 2018, 13(6), ISSN 1748-0221.

Autoři

Havránek, M. Benka, T. Hejtmánek, M. Janoška, Z. Kafka, V. Marčišovská, M. Marčišovský, M. Neue, G. Švihra, P. Tomášek, L. Vančura, P. Vrba, V. Kopeček, J. Kořistková, M.

DOI

https://doi.org/10.1088/1748-0221/13/06/C06004

Characterization of pixel sensor designed in 180 nm SOI CMOS technology

Rok vydání

2018

Vydání

Journal of Instrumentation. 2018, 13(01), ISSN 1748-0221.

Autoři

Benka, T. Havránek, M. Hejtmánek, M. Jakovenko, J. Janoška, Z. Marčišovská, M. Marčišovský, M. Neue, G. Tomášek, L. Vrba, V.

DOI

https://doi.org/10.1088/1748-0221/13/01/C01025

Runaway electrons diagnostics using segmented semiconductor detectors

Rok vydání

2018

Vydání

Fusion Engineering and Design. 2018, 54 1-4. ISSN 1873-7196.

Autoři

Švihra, P. Břeň, D. Casolari, A. Čeřovský, J. Dhyani, P. Farník, M. Ficker, O. Havránek, M. Hejtmánek, M. Janoška, Z. Kafka, V. Kulhánek, P. Linhart, V. Macúšová, E. Marčišovská, M. Marčišovský, M. Mlynář, J. Neue, G. Novotný, L. Svoboda, V. Tomášek, L. Urban, J. Vančura, P. Varju, J. Vrba, V. Weinzettl, V.

DOI

https://doi.org/10.1016/j.fusengdes.2018.12.054

PantherPix hybrid pixel gamma-ray detector for radio-therapeutic applications

Rok vydání

2018

Vydání

Journal of Instrumentation. 2018, 13 ISSN 1748-0221.

Autoři

Neue, G. Benka, T. Havránek, M. Hejtmánek, M. Janoška, Z. Kafka, V. Korchak, O. Lednický, D. Marčišovská, M. Marčišovský, M. Popule, J. Šmarhák, J. Švihra, P. Tomášek, L. Vrba, V.

DOI

https://doi.org/10.1088/1748-0221/13/02/C02036

The SpacePix-D radiation monitor technology demonstrator

Rok vydání

2018

Vydání

Journal of Instrumentation. 2018, 13(12), ISSN 1748-0221.

Autoři

Vrba, V. Benka, T. Havránek, M. Janoška, Z. Kafka, V. Marčišovská, M. Marčišovský, M. Neue, G. Švihra, P. Tomášek, L. Vančura, P. Fojtík, J. Suchánek, P. Sysala, R.

DOI

https://doi.org/10.1088/1748-0221/13/12/C12017

A comparative study of the TID radiation effects on ASICs manufactured in 180 nm commercial technologies

Rok vydání

2018

Vydání

Journal of Instrumentation. 2018, 13 ISSN 1748-0221.

Autoři

Marčišovská, M. Benka, T. Havránek, M. Hejtmánek, M. Janoška, Z. Kafka, V. Marčišovský, M. Neue, G. Popule, J. Švihra, P. Tomášek, L. Vančura, P. Vrba, V.

DOI

https://doi.org/10.1088/1748-0221/13/12/C12003

Evaluation of the Timepix chip radiation hardness using a Co-60 source

Rok vydání

2013

Vydání

Nuclear Instruments and Methods in Physics Research, Section A, Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment. 2013, 732 501-505. ISSN 0168-9002.

Autoři

Marčišovská, M. Dučevová, K. Hejtmánek, M. Konček, O. Marčišovský, M.

DOI

https://doi.org/10.1016/j.nima.2013.06.088