Hlavní informace
Zde jsou obhájené práce doktorského studijního programu Aplikace přírodních věd na Fakultě jaderné a fyzikálně inženýrské ČVUT v Praze.
Přístup k plnému znění disertačních prací je možný z lokální knihovny na Fakultě jaderné a fyzikálně inženýrské, Břehová 7, Praha 1 115 19 nebo po přihlášení.
Jméno | Obor | Rok | Název práce |
---|---|---|---|
Baborová, Lucie | Jaderná chemie | 2022 | Studium difúze Sr a Cs v kompaktovaném bentonitu |
Caha, Vojtěch | Jaderné inženýrství | 2022 | Modely příčného proudění pro subkanálovou analýzu |
Slabý, Jiří | Fyzikální inženýrství | 2022 | Plasmonic structures for biosensing |
Huynh, Jaroslav | Fyzikální inženýrství | 2022 | Femtosecond laser systems with high average power |
Dudáš, Denis | Radiologická fyzika | 2022 | Complex characterization of hybrid PhPix detector for its application in external radiotherapy |
Horák, David | Jaderné inženýrství | 2022 | Measurement of rho0 photoproduction at high energies with the ALICE detector |
Vaněk, Jan | Jaderné inženýrství | 2022 | Measurement of Open-charm mesons in heavy-ion collisions by the STAR experiment |
Bartl, Pavel | Jaderná chemie | 2022 | Study of Extraction of Transactinide Homologues |
Cupal, Josef | Fyzikální inženýrství | 2022 | Influence of gain medium birefriugence on temporal pulse contrast in high peak power laser amplifiers. |
Hubka, Zbyněk | Fyzikální inženýrství | 2022 | Properties of ultrashort pulse laser amplifiers |
Nikl, Jan | Fyzikální inženýrství | 2022 | Modelling of non local energy transport in laser plasma |
Valenta, Petr | Fyzikální inženýrství | 2022 | Laser-driven Sources of Electrons and X-rays in Underdense Plasma: Theory and Simulation |
Kamrádek, Michal | Fyzikální inženýrství | 2022 | Preparation and characterization of rare-earth-doped optical fibers for fiber lasers operating around |
Kaufman, Jan | Fyzikální inženýrství | 2022 | Influence of Laser Shock Peening on corrosion resistance and stress corrosion cracking |
Hývl, Martin | Fyzikální inženýrství | 2022 | Application of Microscopy Methods for Characterization of Silicon Nanostructures |
Další informace